Componentes del sustrato de microondas

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Detalle del producto  

Componentes del sustrato de microondas

I. Descripción general
Uso de evaporación al vacío de película delgada de semiconductores, pulverización catódica, galvanoplastia, fotolitografía, corte por láser, trazado y otros procesos, metalización de patrones en la superficie de sustratos cerámicos (o sustratos especiales), mientras se integran resistencias, condensadores, inductores, etc. ., para producir sustratos de circuitos con funciones específicas tienen funciones como conexión eléctrica, soporte físico y disipación de calor, y se utilizan en dispositivos de microondas de circuitos integrados híbridos.

2. Características del producto
Alta frecuencia, alta precisión, alta confiabilidad

3. Indicadores técnicos
  Material: Al2O3.
  Precisión: ancho de línea/precisión de interlineado ±2.5um.
  Metalización: resistencias de Ti, Ni, Pt, Au, TaN, películas prefabricadas de AuSn, etc.; Cumple con los requisitos de unión de alambre de oro, soldadura SnPb/AuSn/AuSi/AuGe y unión adhesiva conductora.
  Otros: Envuélvalos en los lados, a través de orificios (la resistencia de los orificios pasantes es inferior a 50 miliohmios).


Sistema de película

Resistencia típica del fondo

50 -75-100 Ω/□

Espesor típico de la capa de transición.

1000 ~3000 Å

Grosor de la superficie del metal

3 ~8 µm

Fotolitografía

Resolución

0,8 µm

Precisión de alineación

±1 µm

Exposición de doble cara, exposición de pegamento grueso

Cortar en cubitos

Tamaño mínimo de corte

0,5 mm × 0,5 mm

Precisión dimensional

±50 µm

Precisión de alineación de la unidad

±5 µm

Capacidad de procesamiento

El sustrato de 2" × 2" puede producir 800 piezas/semana


4. Productos típicos

Líneas de retardo, atenuadores de chip, filtros, acopladores Lange, acopladores direccionales, inductores en espiral, etc.

 

5. Áreas de aplicación

Comunicaciones por radar, contramedidas electrónicas, comunicaciones por satélite, equipos de cartografía y topografía de precisión, comunicaciones inalámbricas, detección de alta velocidad y otros campos.

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